Contacteurs de Test

Sockets de Test

Combinant plus de 30 ans d’expérience ainsi que des solutions innovantes et performantes, Cohu fournit des contacteurs pour toutes les applications et les challenges proposés par nos clients.

En complément du support local fourni par Peritest, Les ingénieurs spécialisés de Cohu, localisés près des principaux sites de fabrication, en Europe Asie et USA, peuvent apporter leur soutien pour la réussite de votre projet.

Solutions pour :

Toutes marques et modèles de handlers
Tous types de handlers, gravité, pick & Place, turett, et « strip ».
Boitiers avec et sans plomb.
Boitiers à pas fin jusqu’à 0,25mm
Courants jusqu’à 1000A
Hautes tensions jusqu’à 5kV
Contactage spécifique pour le test de capteurs
Test en fréquence jusqu’à 100 GHz

Caractéristiques :

Capacité de test « tri-températures » avec une haute précision aux températures élevées.
Matériaux adaptés
Conception et géométrie optimisées pour les forts volumes de production
Meilleur rapport qualité de Test / Prix
Options d’interface variées
Faible coût et facilité de remplacement des pointes à ressort

Wafer Level Test

Test fonctionnel au niveau wafer. Carte à pointes en technologie verticale

Faible coût et contacts faciles à remplacer

Le contact au niveau « Wafer Level » est effectué sur les boules du composant, comme au test final. Les composants ainsi testés ne sont pas plans comme des boitiers. Le contacteur doit pouvoir s’adapter à cette situation. Le test au niveau wafer est demandé pour des questions de prix. Le contacteur de test doit aussi avoir un bon rapport qualité prix et un cout d’utilisation réduit.

La même tête de test équipée d’un guide et d’un contacteur manuel (Manual Actuator) pouvant être utilisée pour le test de composants WLCSP découpés. Les contacteurs de test Cohu QuadTech™ propose une variété de technologies pour le test au niveau wafers.