Combinant plus de 30 ans d’expérience ainsi que des solutions innovantes et performantes, COHU fournit des contacteurs pour toutes les applications et les défis proposés par nos clients.
En complément du support local fourni par Peritest, Les ingénieurs spécialisés de COHU, localisés près des principaux sites de fabrication, en Europe Asie et USA, peuvent apporter leur soutien pour la réussite de votre projet.
Test fonctionnel au niveau du wafer. Carte à pointes en technologie verticale
Faible coût et contacts faciles à remplacer.
Le contact au niveau « Wafer Level » est effectué sur les boules du composant, comme au test final. Les composants ainsi testés ne sont pas planes comme des boitiers. Le contacteur doit pouvoir s’adapter à cette situation. Le test au niveau wafer est demandé pour des questions de prix. Le contacteur de test doit aussi avoir un bon rapport qualité prix et un coût d’utilisation réduit.
La même tête de test équipée d’un guide et d’un contacteur manuel (Manual Actuator) pouvant être utilisés pour le test de composants WLCSP découpés. Les contacteurs de test COHU QuadTech™ propose une variété de technologies pour le test au niveau wafers.
